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首頁 > 營業項目 >About Tester>LED Wafer Testing and Sorting Process
 
  • Tester System Computer

    • Pentium II CPU

  • System Software

    • Windows Environment , BORLAND C Language

  • Parallel Test Capability

    • 32 DUTs

  • External Interfaces
    • IEEE-488 (GPIB)

    • Prober/Handler (TTL)

  • DC Sub-system

    • 4 PMU ( ± 10V / ± 1A ) , 2 HV ( ± 110V / ± 50mA) , 2 HC ( ± 10V / ± 50A)

  • Photic Measurement Capability

    • Wavelength (350 ~ 1300nm)

    • Intensity (0.1 ~ 10,000 mcd)

  • Application

    • Photodetector 、 Laser Diode 、 MOS Relay 、 Chip Resistance 、 Regulator

 

 

 

 

 

 

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