| CCM相機模組測試 設備
產品型號: YTEC 3000，YTEC 3100，YTEC 3200，YTEC 3300，YTEC 3400 |
| 產品說明:
自動焦距調整。
電氣功能測試。
影像功能測試。
自動點膠 功能 。
自動UV烤乾功能。
測試圖形的距離可程式設定。
自動焦距調整距離為10cm到500cm 。
CCM測試程式採用模組化設計，使用者可以自行編寫。
進出料方式可以使用手動或全自動化。
應用範圍: CCM相機模組測試 |
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| 晶圓外觀自動光學檢測設備
產品型號: YTEC 2100 |
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產品說明:
可採用人工目檢或自動光學檢測系統方式檢測。
檢測晶圓外觀是否有沾污、刮傷、金屬腐蝕、剝落、龜裂、破片等問題。
可檢測針痕及INK大小、位置是否正常。
記錄不良晶粒的座標位置。
產生含有電測不良及目檢不良的Wafer Map 。
應用範圍:5~8吋晶圓外觀檢測 |
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| Taped Reel元件自動光學檢測設備
產品型號: YTEC 2200 |
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產品說明:
檢測元件封合後的外觀和極性是否正常
檢測的項目有銅掀、破裂、側翻、全翻、腳歪及極性。
使用高解析度相機擷取影像以提高檢測能力。
檢測程式採用模組化及填表方式設計，編寫容易。
每秒最快可以檢測40顆。
應用範圍:TapedReel包裝元件檢測 |
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| LED元件測試機
產品型號: YTEC 1000 |
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產品說明:
LED元件光學及電氣特性量測。
波長的量測範圍為200~1100nm。
適用於藍光、綠光、紅光、白光、多晶及高亮度的白光LED量測。
提供6組20V~-40V/2A的HCPMU,1組200V~-20V/50mA的HVPMU及1組3mA的 LMUDC量測和1組-2000V/1.3AESD量測。
系統可整合各式光譜卡、分光器及積分球測試使用。
可連接各種Prober及Handler量產測試使用。
應用範圍::LED元件測試 |
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